JEDEC утвердил стандарт для кремниевой фотоники

В начале октября JEDEC представил JESD264 – первый в отрасли стандарт для кремниевой фотоники (SiPh). Он описывает требования к квалификации и надежности таких устройств.

Что включает стандарт

JESD264 охватывает четыре ключевые области:

• Протоколы надежности для SiPh-матриц и чипов.
• Рекомендации по квалификации компонентов: модуляторов, фотодиодов, волноводов.
• Требования к сборке и интеграции лазеров.
• Ожидания по контролю и отслеживанию производства.

Зачем это нужно

В отличие от зрелых КМОП-технологий, кремниевой фотонике не хватало единых правил для проверки надежности. Традиционные методы тестирования КМОП фокусируются на электрических параметрах, материалах и корпусе. Но фотонные интегральные схемы (PICs) включают оптические волноводы, модуляторы, фотодетекторы и электронику.

Обычное электрическое тестирование может не выявить проблемы, связанные с оптикой:

• Снижение мощности.
• Изменение вносимых потерь.
• Дрейф длины волны.
• Несоосность соединений.

Эти проблемы становятся заметнее с ростом интеграции. В современных корпусах, таких как CPO или 2,5D/3D-чиплеты, оптические и электронные компоненты, волокна и лазеры размещаются очень плотно. Здесь тепловое расширение, деформация и дефекты могут усиливаться при воздействии температуры, влажности или механических нагрузок. Это усложняет проверку надежности всей системы.

JESD264 призван заполнить этот пробел. Он даст общую основу для разработчиков чипов, производителей пластин и оптических систем, обеспечивая единый подход к аттестации систем кремниевой фотоники.

Источник: Время электроники