Программа конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники

Опубликована программа конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники», которая пройдет 22 октября 2026 года в Москве. Мероприятие состоится в конгресс-центре отеля «Вега Измайлово», зал «Прогресс».

Основные доклады

Среди ключевых тем, которые будут обсуждаться:

• Практика реализации нормативных требований к качеству ЭКБ. Об этом расскажет Евгений Турлаев из ООО «ФОРМ».
• Входной контроль электронных компонентов. Дмитрий Артемьев из ООО «Совтест АТЕ» представит две части доклада: контроль компонентов на пластине (Wafer) и в корпусе (борьба с контрафактом).
• Испытательное оборудование на входном контроле. Роман Климов и Дмитрий Артемьев из ООО «Совтест АТЕ» рассмотрят темы термостатирования, термоциклирования и электротермотренировки.
• Климатические испытания на надежность. Peter Zhang из компании Komeg расскажет о методах и оборудовании.
• Ускоренные вибрационные испытания. Gavin Zhao из ECON представит доклад о «сверхгауссовых ускорениях».
• Радиационная стойкость. Анастасия Уланова из АО «ЭНПО СПЭЛС» затронет тему тестирования изделий на радиационную стойкость.
• Имитация космического пространства. Давид Аревшатян из ООО НПП «Универсал Прибор» расскажет о создании космических условий на Земле.

Дополнительные темы

Также в программе:

• Автоматизированная инспекция качества в оптическом диапазоне от Дарьи Дормидошиной (АО «ЦКБ «Дейтон»).
• Импортозамещение в функциональном тестировании электронной техники, включая PXIe/AXIe платформы и готовые решения для тестирования микросхем. Об этом доложит Сергей Зайченко из ГК Информтест.
• Применение квазистатических измерений на тестерах FORMULA для создания SPICE-моделей.

Регистрация участников начнется в 09:00.

Источник: Время электроники